QuadraTM 3

适用于生产应用的高质量X射线检测

QuadraTM 3 可用于高放大倍率下的高质量X射线检测，实现各类生产应用的质量控制。

可检测各种制造缺陷，包括BGA、QFN和IGBT焊接，PTH填充，界面空洞，元器件开裂和伪造产品。

最精准、最精细的查看

清晰而易于识别的图像可快速显示缺陷。Nordson DAGE的 AspireTM FP 探测器由自主设计和制造， 专用于电子样品检测。

简单即标准

借助Quadra独特的双倾斜轴几何结构，可以快捷方便地找到缺陷。可从各个角度下高放大倍率查看每个细节，而无需旋转样品。

无需维修

QuadraNTTM X射线源采用免换灯丝的专利技术，因此无需定期进行预防性维护工作，从而减少了停机时间和运行成本。

系统

尺寸：1570(宽) x 1500(深) x 1900(高)毫米

系统重量：1950千克 (4300磅)

电源：单相200-230伏(交流)， 50/60赫兹，16安

典型耗电量：1千瓦

运行温度：10-30oC

湿度：<85％(非冷凝)

操作：鼠标

操作系统：Windows 10 64位

X射线安全性：X射线泄漏量小于 1μSv/hr满足所有国际标准